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| SEMI公布11項新技術標準 |
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國際半導體設備暨材料協會SEMI(SemiconductorEquipment and Materials International)日前公布有關半導體及光電面板產業等最新技術標準共11項，包括對 于冷陰極管(ColdCathode Fluorescent Lamp)特征的測量測試方法、LCD背光單位 的專有名詞一致化、對于預防靜電放電(ElectrostaticDischarge)的評估與控制方法， 以及關于半導體設備電子設計方面的安全綱要。
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